特許
J-GLOBAL ID：200903093172527195
汚泥濃度計の校正方法
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
志賀 富士弥 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-328483
公開番号（公開出願番号）：特開平5-164679
出願日： 1991年12月12日
公開日（公表日）： 1993年06月29日
要約：
【要約】【目的】 汚泥濃度計の校正の簡単化を図ると共に校正による計測値の不連続性を無くす。【構成】 汚泥処理水に対する光照射とその散乱光強度から汚泥濃度に対応する演算値Mを求め、この演算値Mと汚泥濃度分析値との対応関係になる校正曲線から汚泥濃度の計測値Sを求める汚泥濃度計において、1回のサンプル分析値S0とそのときの演算値M0及び過去の分析値S1,S2,...と演算値M1,M2,...から選択したN個のデータから校正曲線を求める。
請求項（抜粋）：
汚泥処理水に対する光照射とその散乱光強度から汚泥濃度に対応する演算値Mを求め、この演算値Mと汚泥濃度分析値との対応関係になる校正曲線から汚泥濃度の計測値Sを求める汚泥濃度計において、汚泥処理水のサンプリングによるサンプルの分析によって濃度分析値S0を求め、前記サンプリング時の前記演算値M0を求め、過去に求めた複数の前記濃度分析値S1,S2,...と演算値M1,M2,...のデータから前記濃度分析値S0に近い順に設定数N個の濃度分析値S1,S2,...SN及び該各濃度分析値に対応する演算値M1,M2,...MNを選択し、選択した濃度分析値と演算値及び前記分析値S0と演算値M0から前記校正曲線を求めることを特徴とする汚泥濃度計の校正方法。
IPC (3件)：
G01N 15/06
, G01N 21/47
, G01N 33/18
