特許

J-GLOBAL ID：200903093173805857

半導体発光素子の出力補償方法及び装置

発明者： 永田 慎
出願人/特許権者： 山洋電気株式会社
代理人 (1件)： 西浦 ▲嗣▼晴
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-198964
公開番号（公開出願番号）：特開2002-016316
出願日： 2000年06月30日
公開日（公表日）： 2002年01月18日
要約：

【要約】【課題】 光ファイバに光信号を出力する半導体発光素子が、周囲温度の変化と素子の寿命とによって光出力を変動するのを光出力を測定することなく補償する。【解決手段】ステップS2で周囲温度Taの変化による半導体発光素子の出力の変動量H0(Ta)を演算する。ステップS4で半導体発光素子の劣化に基づく単位時間当たりの低下分を累積した出力の低下量STを求める。ステップS5でこの低下量STが基準値ST0を越えると半導体発光素子の寿命が来たとする。基準値を超えない場合にはステップS6で周囲温度Taに基づく駆動電流指令値の変動量IH(Ta)と素子の劣化によって決まる電流低下量IST(ST,dST)を演算する。これらの電流変動量と電流低下量と電流指令値Icの和Isから半導体発光素子を駆動する駆動電流Idを決定する。ステップS1〜S9の反復によって出力を補償する。

請求項（抜粋）：

光ファイバに光信号を出力する半導体発光素子の周囲温度の変化による前記出力の変動量を求め、この変動量を補償するように前記半導体発光素子の駆動電流を調整する半導体発光素子の出力補償方法であって、前記半導体発光素子に通電される電流と前記周囲温度とに基づいて、前記半導体発光素子の劣化に基づく単位時間当たりの出力の低下分を演算し、前記低下分の累積値により半導体発光素子の寿命に基づく出力の低下量を求め、前記変動量と前記低下量とに基づいて前記駆動電流を調整することを特徴とする半導体発光素子の出力補償方法。

IPC (2件)：

H01S 5/068 ,  H01L 33/00

FI (2件)：

H01S 5/068 ,  H01L 33/00 J

Fターム (11件)：

5F041BB06 ,  5F041BB10 ,  5F041BB31 ,  5F041FF14 ,  5F073AB28 ,  5F073BA01 ,  5F073EA15 ,  5F073EA28 ,  5F073GA02 ,  5F073GA14 ,  5F073GA35