特許

J-GLOBAL ID：200903093185458613

走査光学系検証方法およびその装置

発明者： 上条 直裕
出願人/特許権者： 株式会社リコー
代理人 (1件)： 酒井 昭徳
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-082450
公開番号（公開出願番号）：特開2002-277802
出願日： 2001年03月22日
公開日（公表日）： 2002年09月25日
要約：

【要約】【課題】 複写機、プリンター製品等に使用されている走査型の書込みユニットの検査、検証において、検査、検証結果の信頼性を向上すること。【解決手段】 走査ビームを用いた光学系の光量分布検出、検査をおこなう際に、2次元の受光面を持つビーム受光手段と、前記ビーム受光手段にビームを結像させる結像手順を備え、前記受光手段と、前記結像手段とを走査光学系の光軸方向に移動し、走査ビームを点滅・点灯をさせ、該受光手段より入力したビーム光量データを処理して、該ビーム光量データよりビーム径を取得し、ビームの点灯時間を線形的に変化して、取得したビーム径の変化の線形性を導出する。

請求項（抜粋）：

走査ビームを用いた光学系の光量分布検出、検査をおこなう走査光学系検証方法において、2次元の受光面を持つビーム受光手段と、前記ビーム受光手段にビームを結像させる結像手順を備え、前記受光手段と、前記結像手段とを走査光学系の光軸方向に移動し、走査ビームを点滅・点灯をさせ、該受光手段より入力したビーム光量データを処理して、該ビーム光量データよりビーム径を取得し、ビームの点灯時間を線形的に変化して、取得したビーム径の変化の線形性を導出することを特徴とする走査光学系検証方法。

IPC (5件)：

G02B 26/10 ,  B41J 2/44 ,  G01M 11/00 ,  H04N 1/113 ,  G01B 11/08

FI (5件)：

G02B 26/10 Z ,  G01M 11/00 T ,  G01B 11/08 H ,  B41J 3/00 M ,  H04N 1/04 104 A

Fターム (39件)：

2C362AA20 ,  2C362AA53 ,  2C362AA54 ,  2F065AA26 ,  2F065AA52 ,  2F065DD00 ,  2F065DD04 ,  2F065EE03 ,  2F065FF01 ,  2F065FF04 ,  2F065FF42 ,  2F065GG06 ,  2F065HH04 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ09 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL00 ,  2F065LL14 ,  2F065LL62 ,  2F065MM16 ,  2F065NN08 ,  2F065QQ28 ,  2F065SS11 ,  2F065UU01 ,  2F065UU02 ,  2F065UU06 ,  2G086EE12 ,  2G086GG03 ,  2G086HH07 ,  2H045AA01 ,  2H045CB01 ,  5C072AA03 ,  5C072CA06 ,  5C072CA12 ,  5C072HA02 ,  5C072HA13 ,  5C072HB10 ,  5C072XA01 ,  5C072XA05