特許
J-GLOBAL ID：200903093197343129
配線パターン検査装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小鍜治 明 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-014600
公開番号（公開出願番号）：特開平5-209844
出願日： 1992年01月30日
公開日（公表日）： 1993年08月20日
要約：
【要約】【目的】 プリント基板などにおける配線パターンの不良を検査するための配線パターン検査装置に関するもので、1つの欠陥要因であっても複数の欠陥画素のそれぞれの座標が通知されてしまうため、同一の欠陥に対して何度も確認作業を行わなければならないという課題を解決し、各欠陥画素の連結性を判定して同一の欠陥に起因すると思われる欠陥画素は1つに統合し、その代表座標を出力する配線パターン検査装置を実現することを目的とする。【構成】 プリント基板上に形成された配線パターンの入力画像を2値化手段102で2値化し、欠陥抽出手段103で欠陥抽出を行った画像に対して、欠陥画素統合手段104により主走査方向に連続した欠陥画素はハードウェアでランデータに変換し、副走査方向についてはソフトウェアで各ランデータの連結性を判定し、連結したランデータは1つのグループにして代表座標を演算し出力することにより、1つの欠陥に対して1つの座標を出力することができる。
請求項（抜粋）：
プリント基板上に形成された配線パターンを光学的に検知し、光電変換する画像入力手段と、前記画像入力手段からの濃淡画像を2値画像に変換する2値化手段と、前記2値化手段からの2値画像から配線パターンの欠陥を抽出する欠陥抽出手段と、前記欠陥抽出手段から得られた欠陥画素で、近接する欠陥画素間の距離が所定のm画素以下の欠陥画素を1つのグループとし、1つの欠陥要因で発生したと思われる欠陥画素は1つにまとめ、代表座標を演算して1つの代表点のみを通知する欠陥画素統合手段とを具備した配線パターン検査装置。
IPC (5件)：
G01N 21/88
, G01B 11/24
, G06F 15/62 405
, G06F 15/70 330
, H05K 13/08
