特許
J-GLOBAL ID：200903093205234458
イオントラップ質量分析計の改良された使用方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
竹内 澄夫 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-153041
公開番号（公開出願番号）：特開平6-096727
出願日： 1993年05月31日
公開日（公表日）： 1994年04月08日
要約：
【要約】 (修正有)【目的】 試薬ガスのイオン化および反応工程の間でRFトラッピング場を変えず、イオントラップ内で生成するサンプルイオンをより効率的に除去する。【構成】 広帯域補助AC電圧を所定のカットオフ質量の上下のイオンを除去するために印加する。試薬ガス50が電子衝突イオン化によりイオン化されるとき形成される高い質量のサンプルイオンを、或は試薬ガスの存在下で電子衝突イオン化実験を行うとき低い質量の試薬イオンを除去する。又非共鳴の低周波補助電圧を、トラップされたイオンに衝突誘導解離を受けさせるためにイオントラップ10に印加する。イオンの細分片という多重生成がこの方法で同時に形成され、MSn実験が可能となる。低周波補助場は、高い質量のイオンを補助電圧の大きさの関数でイオントラップから飛び出させるという付加的特性を有し、補助電圧の大きさの走査や不所望の高い質量のサンプルイオンの除去に使用し得る。
請求項（抜粋）：
イオントラップ質量分析計を化学イオン化モードで使用する方法であって、所望の範囲内にある質量電荷数を有するイオンが、イオントラッップ質量分析計内に安定してトラッップされるようにイオントラップ質量分析計のトラッピング場のパラメータを調節する工程と、イオンをイオントラップ質量分析計に導入する工程と、試薬ガスをイオントラップ質量分析計に導入する工程と、所望の範囲内にある質量電荷数を有するサンプルおよび試薬のイオンが、イオントラッップ質量分析計内で形成されるようにイオントラップ質量分析計内でサンプルおよび試薬ガスをイオン化する工程と、前記イオン化工程の間に形成されるサンプルイオンをイオントラップ質量分析計から飛び出させるために、補助AC場をイオントラップ質量分析計に印加する工程と、から成る方法。
IPC (2件)：
引用特許：
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