特許

J-GLOBAL ID：200903093241587880

試験装置

発明者： 小園 祐一
出願人/特許権者： 株式会社アドバンテスト
代理人 (1件)： 龍華 明裕
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-202406
公開番号（公開出願番号）：特開2001-033527
出願日： 1999年07月16日
公開日（公表日）： 2001年02月09日
要約：

【要約】 (修正有)【課題】誤差を含む試験波形に基づいて被試験電気部品が不良と判断されるのを防止する試験装置を提供する。【解決手段】電気部品の試験に用いる試験波形を生成する波形生成部11と、試験波形を印加された電気部品から出力されるべき期待値を試験波形に基づいて出力する期待値出力部20と、試験信号を印加された電気部品の出力値と、期待値とを比較して電気部品16の良否を判定する比較部14とを備える。

請求項（抜粋）：

アナログ信号をディジタル信号に変換するA/D変換部を有する電気部品を試験する試験装置であって、前記電気部品の試験に用いる試験波形を生成する波形生成部と、前記試験波形を印加された前記電気部品から出力されるべき期待値を前記試験波形に基づいて出力する期待値出力部と、前記試験信号を印加された前記電気部品の出力値と、前記期待値とを比較して前記電気部品の良否を判定する比較部とを備えることを特徴とする試験装置。

IPC (3件)：

G01R 31/316 ,  G01R 31/26 ,  G01R 31/28

FI (3件)：

G01R 31/28 C ,  G01R 31/26 G ,  G01R 31/28 H

Fターム (13件)：

2G003AA00 ,  2G003AH02 ,  2G003AH10 ,  2G032AA00 ,  2G032AB02 ,  2G032AC03 ,  2G032AD05 ,  2G032AE08 ,  2G032AG01 ,  9A001EE05 ,  9A001JJ45 ,  9A001KK54 ,  9A001LL05