特許

J-GLOBAL ID：200903093244226187

アモルファスシリコンフラットパネル検出器の複数のオフセット修正を収集し且つ格納する方法及び装置

発明者： ポール・アール・グランフォース ,  リチャード・アウフリヒティヒ
出願人/特許権者： ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー
代理人 (3件)： 松本 研一 ,  小倉 博 ,  伊藤 信和
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-153794
公開番号（公開出願番号）：特開2004-041718
出願日： 2003年05月30日
公開日（公表日）： 2004年02月12日
要約：

【課題】連続する画像(62)を収集するために使用されるX線システム(14)を提供する。【解決手段】X線システム(14)は、検出器(22)により検出されるX線(17)を発生するX線源(15)を含む。画像プロセッサ(28)は、複数の行及び列を成して配列されている検出器素子(40)により蓄積された電荷のレベルを感知するために使用される。画像プロセッサ(28)には第1及び第2のオフセット画像メモリ(70、72)が含まれている。第1のオフセット画像メモリ(70)は第1の動作モードに関するオフセット画像データを格納し、第2のオフセット画像メモリ(72)は第2の動作モードに関するオフセット画像データを格納する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

連続する画像(62)を収集するために利用されるX線システム(14)において、 X線(17)を発生するX線源(15)と、 複数の行及び列を成して配列されており、電荷のレベルを蓄積する検出器素子(40)を具備する検出器(22)と、 第1の動作モード及び第2の動作モードをそれぞれ指示する前記電荷のレベルに基づいてオフセット画像データを格納する第1及び第2のオフセット画像メモリ(70、72)を含み、前記検出器素子(40)により蓄積された電荷のレベルを感知する画像プロセッサ(28)とを具備するX線システム(14)。

IPC (7件)：

A61B6/00 ,  G01T1/17 ,  G01T1/20 ,  G06T1/00 ,  H01L27/14 ,  H01L27/146 ,  H04N5/32

FI (11件)：

A61B6/00 300S ,  A61B6/00 320Z ,  G01T1/17 E ,  G01T1/20 E ,  G01T1/20 J ,  G06T1/00 400B ,  G06T1/00 460A ,  H04N5/32 ,  A61B6/00 303F ,  H01L27/14 K ,  H01L27/14 C

Fターム (48件)：

2G088EE01 ,  2G088FF02 ,  2G088GG19 ,  2G088JJ05 ,  2G088KK24 ,  2G088KK32 ,  2G088LL12 ,  2G088LL17 ,  4C093AA01 ,  4C093CA13 ,  4C093EB12 ,  4C093EB13 ,  4C093EB17 ,  4C093FA16 ,  4C093FA25 ,  4C093FA32 ,  4C093FC19 ,  4C093FD03 ,  4C093FD05 ,  4C093FD11 ,  4C093FD13 ,  4C093FF03 ,  4C093FF34 ,  4C093FH02 ,  4M118AA05 ,  4M118AB01 ,  4M118BA05 ,  4M118CA02 ,  4M118CA11 ,  4M118CB06 ,  4M118CB11 ,  4M118FB03 ,  4M118FB09 ,  4M118FB13 ,  4M118FB16 ,  4M118GA10 ,  5B047AA17 ,  5B047BB04 ,  5B047BC11 ,  5B047BC23 ,  5B047CB05 ,  5B047CB22 ,  5B047DA10 ,  5C024AX11 ,  5C024CX03 ,  5C024GX03 ,  5C024GY31 ,  5C024HX58