特許
J-GLOBAL ID：200903093270213760
電池寿命検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
田澤 博昭 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-105827
公開番号（公開出願番号）：特開平6-281708
出願日： 1993年03月29日
公開日（公表日）： 1994年10月07日
要約：
【要約】【目的】 電池寿命の検出回数を減らして、検出のために消費される電流を少なくし、電池の長寿命化を図る。【構成】 被検査電池1で駆動される負荷に相当するダミー抵抗3と、このダミー抵抗を前記被検査電池に対し並列に接続する開閉器2と、ダミー抵抗の電圧である被検査電池の電位が第1のレベルまで低下したことを検出する第1の比較回路5と、前記被検査電池の電位が第2のレベルまで低下したことを検出する第2の比較回路7とを設け、制御回路8に前記被検査電池が正常な期間は前記開閉器を一定周期で開閉させ、前記第1の比較回路の出力を受けると前記開閉周期を短くさせ、前記第2の比較回路の出力を受けると前記被検査電池が寿命であることを報知させる。
請求項（抜粋）：
被検査電池で駆動される負荷に相当するダミー抵抗と、このダミー抵抗を前記被検査電池に対し並列に接続する開閉器と、前記ダミー抵抗の電位と第1の基準電位とを比較し、前記被検査電池の電位が第1のレベルまで低下したことを検出する第1の比較回路と、前記ダミー抵抗の電位と前記第1の基準電位とは異なる第2の基準電位とを比較し、前記被検査電池の電位が第2のレベルまで低下したことを検出する第2の比較回路と、前記被検査電池が正常な期間は前記開閉器を一定周期で開閉し、前記第1の比較回路の出力を受けると前記開閉周期を短くし、前記第2の比較回路の出力を受けると前記被検査電池が寿命であることを報知する制御回路とを備えた電池寿命検査装置。
IPC (2件)：
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