特許
J-GLOBAL ID:200903093304829293

超音波表面探傷装置及びその方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 下田 容一郎 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-208977
公開番号(公開出願番号):特開平8-075707
出願日: 1994年09月01日
公開日(公表日): 1996年03月22日
要約:
【要約】【構成】 ワークWに表面波を送り、疵があった場合にはこの疵による反射波を受信するところの送受信用探触子2と、直進波を受信する受信専用探触子3と、これら送受信用探触子2と受信専用探触子3の受信信号を入力し、反射波の有無と直進波の強弱でワークW表面ので疵の有無と異物の有無を識別する演算器5とからなる超音波表面探傷装置1。【効果】 疵の有無のみならず、疵と異物の識別が可能であり、疵探傷精度が向上する。
請求項(抜粋):
円筒物や平板などのワークの表面疵を超音波表面波で探傷する超音波表面探傷装置であって、この超音波表面探傷装置は、前記ワークに表面波を送り、疵があった場合にはこの疵による反射波を受信するところの送受信用探触子と、前記送受信用探触子から離れた位置にワーク上に配置され、前記表面波から反射波を除いたところの直進波を受信する受信専用探触子と、これら送受信用探触子と受信専用探触子の受信信号を入力し、前記反射波の有無と直進波の強弱により疵の有無と異物の有無を識別する演算器とからなることを特徴とした超音波表面探傷装置。

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