光学素子およびその光学検査方法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：前島肇
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-301179
公開番号（公開出願番号）：特開平10-133018
出願日： 1996年10月25日
公開日（公表日）： 1998年05月22日
要約：

【要約】【課題】保護フィルムおよび/または剥離フィルムを積層したままの状態で製造工程中の検査が可能な光学素子を提供する。【解決手段】光学補償板3、偏光板など共に、光学的等方性保護フィルム2および/または光学的等方性剥離フィルム5を用いることを特徴とする光学素子1a、およびこれらの光学的等方性のフィルムを積層したまま光学的欠陥を検査することを特徴とする光学検査方法。

請求項（抜粋）：

光学補償板および光学的等方性保護フィルムを付与した積層フィルムからなることを特徴とする光学素子。

IPC (3件)：

G02B 5/30 , G01N 21/88 , G02F 1/13

FI (3件)：

G02B 5/30 , G01N 21/88 Z , G02F 1/13

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