特許
J-GLOBAL ID：200903093403967517
測距装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
中村 稔
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-161737
公開番号（公開出願番号）：特開平5-333262
出願日： 1992年05月29日
公開日（公表日）： 1993年12月17日
要約：
【要約】【目的】 従前と同様の測距精度を保持しつつ、測距可能距離を広くする。【構成】 投光手段7,8を、少なくとも2種類の波長の光を選択的に投射する手段とし、該投光手段から投射されて測距対象物にて反射された光の波長に応じて、受光手段への入射位置を変化させる照射位置可変手段9を設け、照射位置可変手段により、測距対象物にて反射された光の波長に応じて、受光手段への入射位置を変化させるようにしている。
請求項（抜粋）：
測距対象物へ光を投射する投光手段と、該投光手段より投射され、測距対象物にて反射された光を受光する受光手段と、前記反射光の入射位置に応じて変化する複数の信号を出力する前記受光手段からの前記複数の信号に基づいて測距対象物までの距離を測定する演算手段とを備えた測距装置において、前記投光手段を、少なくとも2種類の波長の光を選択的に投射する手段とし、該投光手段から投射されて測距対象物にて反射された光の波長に応じて、前記受光手段への入射位置を変化させる照射位置可変手段を設けたことを特徴とする測距装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G02B 7/11 B
, G03B 3/00 A
