特許
J-GLOBAL ID：200903093417852186
レーザフラッシュ法を用いた熱定数の測定方法及びその装置
発明者：
出願人/特許権者：
,
代理人 (1件)：
中前 富士男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-094291
公開番号（公開出願番号）：特開平8-261967
出願日： 1995年03月27日
公開日（公表日）： 1996年10月11日
要約：
【要約】【目的】 高精度でかつ効率的に多層材料中の一層における未知の熱拡散率、比熱等の熱定数を決定することができ、しかも測定の環境条件に影響されることの少ないレーザフラッシュ法を用いた熱定数の測定方法及びその装置を提供する。【構成】 熱拡散率及び比熱が未知の一層を含む多層材料10の表面側からレーザフラッシュを照射して得られる裏面側の温度応答と、熱拡散率、比熱、及びビオー数を変数として含む理論温度応答とを比較し、前記熱拡散率、比熱、及びビオー数を求める。
請求項（抜粋）：
熱拡散率及び比熱が未知の一層を含む多層材料の表面側からレーザフラッシュを照射して得られる裏面側の温度応答と、熱拡散率、比熱、及びビオー数を変数として含む理論温度応答とを比較し、前記熱拡散率、比熱、及びビオー数を求めることを特徴とするレーザフラッシュ法を用いた熱定数の測定方法。
引用特許：
前のページに戻る
