特許
J-GLOBAL ID：200903093466700197
情報処理装置の試験方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
秋田 収喜
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-042913
公開番号（公開出願番号）：特開平7-253901
出願日： 1994年03月14日
公開日（公表日）： 1995年10月03日
要約：
【要約】【目的】 テスト内容の偏り、もしくは、未テスト項目の発生を防止でき、効率の良い情報処理装置の試験方法を提供すること。【構成】 乱数データを入力として試験命令列を繰返し生成し、該試験命令列を被試験情報処理装置に実行させて、該情報処理装置を試験する方法において、乱数データを入力として次の試験命令列を生成するときに、繰返し生成された試験命令列の中で生成回数の少ない試験命令を、無作為に、乱数データを入力として生成中の試験命令列に挿入することを特徴とする試験命令列の生成方法。
請求項（抜粋）：
乱数データを入力として試験命令列を繰返し生成し、該試験命令列を被試験情報処理装置に実行させて、該情報処理装置を試験する方法において、乱数データを入力として次の試験命令列を生成するときに、繰返し生成された試験命令列の中で生成回数の少ない試験命令を、無作為に、乱数データを入力として生成中の試験命令列に挿入することを特徴とする情報処理装置の試験方法。
IPC (2件)：
G06F 11/22 310
, G06F 11/22
