特許
J-GLOBAL ID:200903093480773547

回転検出装置の製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 恩田 博宣 ,  恩田 誠
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-228564
公開番号(公開出願番号):特開2006-047113
出願日: 2004年08月04日
公開日(公表日): 2006年02月16日
要約:
【課題】バイアス磁石の成形精度に起因する歩留まりの低下を抑制することのできる回転検出装置の製造方法を提供する。【解決手段】工程S1においてバイアス磁石を成形した後、工程S2において同バイアス磁石の磁界特性を測定する。そしてこの磁界特性が所望とする特性であるときには、磁気抵抗素子を有するセンサチップと一体に組み付けて回転検出装置を製造する。一方、上記工程S2において上記バイアス磁石の磁界特性が所望とする特性でないときには、工程S5において同バイアス磁石の一部をトリミングして所望とする特性に調整した後、上記センサチップ等と一体に組み付ける。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
磁気抵抗素子を備えるセンサチップと前記磁気抵抗素子にバイアス磁界を付与するバイアス磁石とを有し、前記センサチップの近傍にてロータが回転するときに前記バイアス磁界と協働して生じる磁気ベクトルの変化を前記磁気抵抗素子の抵抗値変化として感知して前記ロータの回転態様を検出する回転検出装置の製造方法であって、 前記バイアス磁石の成形後、前記磁気抵抗素子に付与されるバイアス磁界の特性を測定しつつ、この磁界特性が所望の特性となるまで同バイアス磁石の一部をトリミングする工程と、このトリミングしたバイアス磁石に前記センサチップを一体に組み付ける工程とを備える ことを特徴とする回転検出装置の製造方法。
IPC (1件):
G01D 5/245
FI (1件):
G01D5/245 R
Fターム (9件):
2F077AA46 ,  2F077AA47 ,  2F077JJ01 ,  2F077JJ09 ,  2F077JJ21 ,  2F077NN21 ,  2F077PP14 ,  2F077UU15 ,  2F077VV33
引用特許:
出願人引用 (7件)
  • 回転検出装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2002-051448   出願人:株式会社デンソー
  • 磁気検出装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平4-329670   出願人:日本電装株式会社
  • 特開平2-042372
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審査官引用 (3件)
  • 磁気検出装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平4-329670   出願人:日本電装株式会社
  • 特開平2-042372
  • 非接触型ポテンショメータ
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平11-349461   出願人:エルメック電子工業株式会社

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