特許
J-GLOBAL ID：200903093497794580
超音波検査方法及び装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
遠山 勉 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-184329
公開番号（公開出願番号）：特開2001-013114
出願日： 1999年06月29日
公開日（公表日）： 2001年01月19日
要約：
【要約】【課題】欠陥の板面方向の位置及び板厚方向の位置を容易に且つ高精度に検出することが可能な超音波検査方法及び装置を提供する。【解決手段】被検査物2に超音波を入射し被検査物2の不連続部で反射された超音波の反射エコーを検出する反射エコー検出手段10と、被検査物2に超音波を入射し不連続部で回折した超音波を検出する回折波検出手段11とを有し、反射エコー検出手段10と回折波検出手段11とを一体的に構成して、同一の検査部分3に沿って同時に移動させることを特徴とする。
請求項（抜粋）：
被検査物に超音波を入射し前記被検査物の不連続部で反射された前記超音波の反射エコーを検出する反射エコー検出工程と、前記被検査物に超音波を入射し前記不連続部からの回折波を検出する回折波検出工程とを有し、前記反射エコー検出工程と前記回折波検出工程とを同時に行うことを特徴とする超音波検査方法。
Fターム (13件)：
2G047AB07
, 2G047BA03
, 2G047BC02
, 2G047BC07
, 2G047EA09
, 2G047EA14
, 2G047GG19
, 2G047GG30
, 2G047GG41
, 2G047GH03
, 2G047GH04
, 2G047GH06
, 2G047GH20
