特許
J-GLOBAL ID：200903093503014517
電子制御装置および電子制御装置の検査システム
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-083166
公開番号（公開出願番号）：特開平10-283016
出願日： 1997年04月01日
公開日（公表日）： 1998年10月23日
要約：
【要約】【課題】電子制御装置の製造時に接続検査を行うにあたって、実際の制御に準じた一連の制御動作を実行させて検査する必要をなくし、製造ラインにおける作業工程のタクトピッチに合わせた検査時間の短縮を実現する。【解決手段】電子制御装置1自身に通常の制御プログラムの他に接続検査を行う検査プログラム3を備え、入力側の接続をチェックさせ、また、出力側のチェックのための信号を外部の検査ユニット5に出力してチェックさせる、接続ラインの不具合の有無と発生箇所を特定させる制御プログラムを有する検査システムを設けた。
請求項（抜粋）：
複数の内部入力ライン、及び複数の内部出力ラインとそれぞれ接続されたマイクロコンピュータを搭載した電子制御装置において、前記マイクロコンピュータは、外部より前記複数の内部入力ラインを介して入力される入力信号に応じて、通常の制御に適応した制御信号を、前記複数の内部出力ラインを介して外部へ出力する通常制御プログラムを実行する通常制御実行手段と、通常の前記入力信号の組合せでは起こりえない特定の入力信号の組合せを、外部より前記複数の内部入力ラインを介して検出すると、前記通常制御実行手段における通常制御プログラムとは独立した専用の検査プログラムを実行する検査実行手段とを備えたことを特徴とする電子制御装置。
IPC (3件)：
G05B 23/02
, G05B 23/02 302
, G05B 15/02
G05B 23/02 V
, G05B 23/02 302 R
, G05B 15/02 A
