特許
J-GLOBAL ID：200903093503031322
バツテリパツク及びその制御方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
田辺 恵基
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-181386
公開番号（公開出願番号）：特開平10-014122
出願日： 1996年06月21日
公開日（公表日）： 1998年01月16日
要約：
【要約】【課題】バツテリセルの誤制御を未然にかつ精度良く防止し得るバツテリパツク及びその制御方法を実現し難かつた。【解決手段】バツテリ部の端子電圧値又はその所定比率による分圧電圧値を検出する第2の電圧検出回路を設け、第1の電圧検出回路により検出された各バツテリセルの端子電圧値を順次加算することにより得られる計算上のバツテリ部の端子電圧値又はその所定比率による分圧電圧値でなる第1の電圧値と、第2の電圧検出回路により検出された測定上のバツテリ部の端子電圧値又はその所定比率による分圧電圧値でなる第2の電圧値とに基づいてバツテリセルの過充放電を防止する所定の処理を行うようにしたことにより、バツテリセルの誤制御を未然にかつ精度良く防止し得るバツテリパツク及びその制御方法を実現できる。
請求項（抜粋）：
複数のバツテリセルからなるバツテリ部と、上記バツテリ部の各上記バツテリセルの端子電圧値をそれぞれ検出する第1の電圧検出回路と、上記バツテリ部の端子電圧値又は当該端子電圧値の所定比率による分圧電圧値を検出する第2の電圧検出回路と、上記第1の電圧検出回路により検出された各上記バツテリセルの端子電圧値を順次加算することにより得られる上記バツテリ部の端子電圧値又は当該端子電圧値の上記所定比率による分圧電圧値でなる計算上の第1の電圧値と、上記第2の電圧検出回路により検出された上記バツテリ部の端子電圧値又は当該端子電圧値の上記所定比率による分圧電圧値でなる測定上の第2の電圧値とを比較し、上記第1及び第2の電圧値の差が所定の閾値を越えた場合に上記バツテリセルの過充放電を防止する所定の処理を行う制御手段とを具えることを特徴とするバツテリパツク。
IPC (4件)：
H02J 7/02
, H01M 2/10
, H01M 10/44
, H02J 7/10
H02J 7/02 H
, H01M 2/10 E
, H01M 10/44 Q
, H02J 7/10 B
