特許
J-GLOBAL ID：200903093553164463
測距装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
長谷川 芳樹 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-315431
公開番号（公開出願番号）：特開平7-167646
出願日： 1993年12月15日
公開日（公表日）： 1995年07月04日
要約：
【要約】【目的】 外界輝度に対して適用範囲が広く、常に高い精度で測距を行う。【構成】 この測距装置は、アクティブ方式の測距を実施するアクティブ測距部Aと、パッシブ方式の測距を実施するパッシブ測距部Pとを備える。そして、測距値選択回路40では、輝度判定部Lによって得られた外界輝度が、高輝度レベルか、低輝度レベルかを判別する。この結果、測距値選択回路40では、低輝度と判別した場合には、アクティブ測距部Aの測距結果を適正な測距値として選択し、高輝度と判別した場合には、パッシブ測距部Pの測距結果を適正な測距値として選択し、各選択した測距値を出力する。
請求項（抜粋）：
被写体に向けて測距光を投光し、その反射光の集光位置に基づき、この被写体までの距離を計測するアクティブ方式の第1測距部と、前記被写体で反射される自然光を2系統の光学系で受光し、この各光学系で得られた2つの光学像に基づき、前記被写体までの距離を計測するパッシブ方式の第2測距部と、測光結果から外界輝度を判定する輝度判定部と、前記輝度判定部で判定された外界輝度を基に、前記第1測距部と第2測距部とでそれぞれ得られた測距結果のうち、いずれか一方の測距結果を適正な測距値として選択して出力する測距値選択手段と、を備えることを特徴とする測距装置。
IPC (4件)：
G01C 3/06
, G01J 1/02
, G02B 7/30
, G03B 13/36
G02B 7/11 A
, G03B 3/00 A
