特許
J-GLOBAL ID：200903093588298233
半導体スイッチの故障検出方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
名嶋 明郎 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-303945
公開番号（公開出願番号）：特開平9-148901
出願日： 1995年11月22日
公開日（公表日）： 1997年06月06日
要約：
【要約】【課題】 従来のような高価な電圧検出装置を用いることなく半導体スイッチの故障検出を正確に行うことができる半導体スイッチの故障検出方法を提供する。【解決手段】 半導体スイッチ素子1のアノード・カソード間の端子間電圧と、各半導体スイッチへのゲート信号とを検出し、両者の論理関係に基づき故障の有無を判定する。即ち、ゲート信号が有りにもかかわらず端子間電圧が高電圧であるとき、またはゲート信号が無しにもかかわらず端子間電圧が低電圧であるとき、半導体スイッチ素子1が故障したものと判定する。電圧検出装置2は電圧の高低を検出するだけでよく、高精度を要求されないので、安価なものでよい。
請求項（抜粋）：
半導体スイッチを構成する半導体スイッチ素子のアノード・カソード間の端子間電圧と、各半導体スイッチ素子へのゲート信号との論理結果に基づき、前記半導体スイッチの故障を検出することを特徴とする半導体スイッチの故障検出方法。
IPC (4件)：
H03K 17/00
, H02M 1/00
, H03K 17/725
, H03K 19/00
H03K 17/00 B
, H02M 1/00 C
, H03K 17/725 E
, H03K 19/00 B
