特許
J-GLOBAL ID：200903093603765633
光CTの計測法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
工業技術院機械技術研究所長
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-112522
公開番号（公開出願番号）：特開平8-285764
出願日： 1995年04月13日
公開日（公表日）： 1996年11月01日
要約：
【要約】【目的】 有効な測定データの数を増加させることができて、従ってより良い画像を得ることができ、また光検出器が強い光を検出することができて測定データの信頼性を高めることができる光CT技術を提供すること。【構成】 検査対象物1の表面のうちの光入射部分及び光出射部分を除く部分のうちの少なくとも一部分の光反射条件を可変にした。検査対象物1の表面3を全反射性の表面や無反射性の表面など表面の各部分の反射条件を調整し、このような光反射条件を調整された部分の位置や反射条件をあらかじめコンピュータに入力することによって入射光の検査対象物1内における光の経路や強度変化を計測することができ、再構成画像の品質を高めることができる。
請求項（抜粋）：
検査対象物の表面のうちの光入射部分及び光出射部分を除く部分のうちの少なくとも一部分の光反射条件を可変にしたことを特徴とする光CTの計測法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 21/27 A
, A61B 10/00 E
