特許
J-GLOBAL ID:200903093623842537

耐電圧試験装置

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-246303
公開番号(公開出願番号):特開2003-028915
出願日: 2001年07月10日
公開日(公表日): 2003年01月29日
要約:
【要約】【課題】 耐電圧試験装置の電流測定速度と測定精度が両立しない問題があり、速度が遅いと供試物を破損し易く、精度が低いと合否判定の信頼性が低くなる。【解決手段】 両立させる為、指定電流を大きく超えた電流を高速でキャッチし、印加電圧を遮断する専用の電流測定(検出)回路と、一方正確な電流を測定し合否判断をする専用の電流測定回路を独立して設け解決する。具体的には高速の電流測定には遅れの原因となる時定数を必要最小限に減じ、指定電流の+10から+20%のパルス状の大きな電流キャッチ機能を備え、供試物の印加電圧を遮断して供試物を保護する一方、高精度と広範囲な電流測定を可能にするオートレンジ方式を採用し、かつ精度を確保するために大きな時定数で測定信号を直流化して電流の真値を得、高精度の合否判定と電流表示を実現した耐電圧試験装置を提供する。
請求項(抜粋):
交流信号源の信号を増幅し、トランスを介して電圧を供試物に印加し、流れる電流を計測して合否を判断する耐電圧試験装置において、電流検出手段と増幅手段を備え、前記電流検出手段で検出した信号を前記増幅手段で増幅し、演算手段を設け、前記演算手段で制御される第1の選択手段と第2の選択手段を備え、前記増幅手段の複数の出力信号を前記第1の選択手段と前記第2の選択手段で各々選択し、第1の直流化手段と第2の直流化手段及び比較手段とD/A変換手段を設け、前記第1の選択手段で選択した信号を前記第1の直流化手段で直流化し、前記比較手段の一方に入力し、他方には前記演算手段からの信号を前記D/A変換手段で変換して入力し、所定の出力信号を得、A/D変換手段を設け、前記第2の選択手段で選択した信号を前記第2の直流化手段で直流化し前記A/D変換手段でディジタル値化し、前記演算手段で演算することを特徴とする耐電圧試験装置
Fターム (4件):
2G015AA00 ,  2G015BA04 ,  2G015CA04 ,  2G015CA05
引用特許:
出願人引用 (4件)
  • 耐電圧試験装置及び試験方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2001-242958   出願人:菊水電子工業株式会社
  • 試験装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平11-053563   出願人:日置電機株式会社
  • 特開昭56-061658
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