特許
J-GLOBAL ID：200903093636629689
ネジ深測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
吉井 昭栄 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-239706
公開番号（公開出願番号）：特開平6-185903
出願日： 1992年09月08日
公開日（公表日）： 1994年07月08日
要約：
【要約】【目的】 有効ネジ深さを直接測定でき、精度の高い測定が可能で、その結果、規格に合ってネジ孔を形成できるネジ深測定装置を提供することを目的としている。【構成】 被測定ネジ孔1に螺入する螺子杆2に螺子杆2に沿ってスライド自在にスライド筒体3を被嵌し、このスライド筒体3の下端に前記被測定ネジ孔1の開口周辺に当接する当接部4を形成し、スライド筒体3の当接部4を被測定ネジ孔1の開口周辺に当接した状態を保持したまま螺子杆2を被測定ネジ孔1に螺入自在に構成し、スライド筒体3にスライド筒体3に対する螺子杆2の螺入移動値を目盛表示する目盛機構9を設けたネジ深測定装置。
請求項（抜粋）：
被測定ネジ孔に螺入する螺子杆に螺子杆に沿ってスライド自在にスライド筒体を被嵌し、このスライド筒体の下端に前記被測定ネジ孔の開口周辺に当接する当接部を形成し、スライド筒体の当接部を被測定ネジ孔の開口周辺に当接した状態を保持したまま螺子杆を被測定ネジ孔に螺入自在に構成し、この螺子杆若しくはスライド筒体にスライド筒体に対する螺子杆の螺入移動値を目盛表示する目盛機構を設けたことを特徴とするネジ深測定装置。
IPC (2件)：
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