特許
J-GLOBAL ID:200903093711408464
半導体レーザ分光法を用いた温度・濃度・化学種の高速計測方法および計測システム
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (1件):
藤本 英夫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-243643
公開番号(公開出願番号):特開2000-074830
出願日: 1998年08月28日
公開日(公表日): 2000年03月14日
要約:
【要約】【課題】 コンパクトな装置構成によって、燃焼場に存在する燃料や燃焼ガスの温度・濃度・化学種を数10kHz以上の高時間分解能で時系列計測できる半導体レーザ分光法を用いた温度・濃度・化学種の高速計測方法および計測システムを提供すること。【解決手段】 2μm付近のレーザ光をアイソレータと光ファイバとを介して被測定ガスに照射するとともに、前記レーザ光の波長掃引を行うようにした。
請求項(抜粋):
2μm付近のレーザ光をアイソレータと光ファイバとを介して被測定ガスに照射するとともに、前記レーザ光の波長掃引を行うようにしたことを特徴とする半導体レーザ分光法を用いた温度・濃度・化学種の高速計測方法。
Fターム (22件):
2G059AA01
, 2G059BB01
, 2G059CC04
, 2G059CC05
, 2G059CC09
, 2G059DD12
, 2G059EE01
, 2G059EE12
, 2G059FF10
, 2G059GG01
, 2G059GG02
, 2G059GG03
, 2G059GG09
, 2G059HH01
, 2G059HH06
, 2G059JJ13
, 2G059JJ17
, 2G059KK01
, 2G059LL03
, 2G059MM01
, 2G059MM17
, 2G059NN01
引用特許:
審査官引用 (7件)
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ガス濃度測定方法およびその測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-052648
出願人:東京電力株式会社, 日立電線株式会社
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炭素同位体分析装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-110993
出願人:日本無線株式会社
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レーザ分光分析装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-042971
出願人:森村正直, 横河電機株式会社
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炭素同位体分析装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-121683
出願人:日本無線株式会社
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ガス濃度測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-095745
出願人:三菱重工業株式会社
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ガス濃度測定方法およびその測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-052649
出願人:東京電力株式会社, 日立電線株式会社
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特開平3-095465
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