特許
J-GLOBAL ID：200903093737321677
機器の信頼性向上方法およびシステム
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
武 顕次郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-032059
公開番号（公開出願番号）：特開平6-250998
出願日： 1993年02月22日
公開日（公表日）： 1994年09月09日
要約：
【要約】 (修正有)【目的】機器の予防保全及び信頼性を向上させる。【構成】機器各部位について、現状適用技術を各影響因子に分解する技術解析手段2、分解した各影響因子について現状適用技術の値及び基準技術の値を入力する入力手段3、基準技術の値を基にして現状適用技術の各影響因子について細分化指数を求め、該細分化指数の積による損傷寿命指数F値を機器各部位について求める損傷寿命指数演算手段4、所定値より小さい損傷寿命指数F値を示す機器部位を摘出する現状技術判別手段5、各影響因子に分解した各種技術を入力手段3で入力し、その細分化指数の積による機器各部位の損傷寿命指数F値を所定値と比較し、所定値以上の損傷寿命指数F値を取る改善技術を選択する改善技術判別手段7、並びにコスト等を考慮して最適技術を求める最適技術評価手段8を設ける。
請求項（抜粋）：
機器各部位について、現状適用技術を損傷におよぼす各影響因子に分解し、 その分解した各影響因子について、前記現状適用技術の値や基準技術の値を入力して、その入力した基準技術の値を基にして現状適用技術の各影響因子について細分化指数を求め、その細分化指数の積による損傷寿命指数F値を、機器各部位についてそれぞれ演算し、その機器各部位の損傷寿命指数F値を所定値と比較し、所定値より小さい損傷寿命指数F値を示す機器各部位を摘出して出力し、その摘出された機器部位について、各影響因子に分解した各種技術を入力し、前記各種技術の各影響因子を用いて細分化指数を求め、該細分化指数の積によって機器各部位の損傷寿命指数F値を求めると共に、この機器各部位の損傷寿命指数F値を所定値と比較し、所定値以上の損傷寿命指数F値を取る改善技術を選択して、その選択された改善技術にコスト等を考慮して最適技術を求めて出力することを特徴とする機器信頼性向上方法。
IPC (3件)：
G06F 15/20
, G21C 17/003
, G01N 3/32
