特許
J-GLOBAL ID：200903093743755204
レーザーの動作点を最適化する方法およびこの方法を実行するための装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
浅村 皓 (外3名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-530962
公開番号（公開出願番号）：特表2002-503036
出願日： 1999年01月20日
公開日（公表日）： 2002年01月29日
要約：
【要約】レーザーの特性を測定する工程と、異なるレーザー部分を制御する工程とを備えた、レーザーの動作点を最適化するための方法である。本発明はそれぞれの部分に注入される電流を変えることにより異なるレーザー部分1、2、3を制御する工程と、レーザーに強固に接続された検出デバイスからの信号におけるモードジャンプ点で生じる不連続点をレーザー30に検出させる工程と、制御ユニット31により異なるレーザー部分1、2、3の制御を実行する工程と、異なる制御の組み合わせおよび検出デバイスから送られる信号を制御ユニット31に送る工程と、レーザー30のモード平面を制御ユニットに検出させる工程と、1つまたは数個のモード平面の少なくとも一部を制御ユニット31に属するメモリ32内に記憶する工程と、レーザーが所望の動作点を得るように制御ユニット31に異なるレーザー部分1、2、3を制御させる工程とを特徴とする。
請求項（抜粋）：
レーザーの特性を測定する工程と、異なるレーザー部分を制御する工程とを備えた、レーザーの動作点を最適化するための方法であって、 それぞれの部分に注入される電流を変えることにより異なるレーザー部分(1、2、3)を制御する工程と、レーザーに強固に接続された検出デバイスからの信号におけるモードジャンプ点で生じる不連続点をレーザー(30)に検出させる工程と、制御ユニット(31)により異なるレーザー部分(1、2、3)の制御を実行する工程と、異なる制御の組み合わせおよび検出デバイスから送られる信号を制御ユニット(31)に送る工程と、レーザー(30)のモード平面を制御ユニットに検出させる工程と、1つまたは数個のモード平面の少なくとも一部を制御ユニット(31)に属するメモリ(32)内に記憶する工程と、レーザーが所望の動作点を得るように制御ユニット(31)に異なるレーザー部分(1、2、3)を制御させる工程とにより特徴付けられる、レーザーの動作点を最適化する方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (9件)：
5F072AB13
, 5F072HH05
, 5F072JJ20
, 5F072KK02
, 5F072MM20
, 5F073AA65
, 5F073EA29
, 5F073GA02
, 5F073GA12
