特許
J-GLOBAL ID:200903093770929338

外観検査装置

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-017904
公開番号(公開出願番号):特開平6-201605
出願日: 1993年01月07日
公開日(公表日): 1994年07月22日
要約:
【要約】【目的】 光学特性の異なる二種以上の素材からなる物品の外観を連続的に検査することができる装置を提供する。【構成】 被検査物(T)を走査して所定のアナログ信号を出力するラインイメージセンサ(1)を設け、アナログ信号をディジタル信号に変換して出力するA/D変換手段(2)を設ける。A/D変換手段(2)から出力されるディジタル信号を微分処理して該当材質部の境界を検出するとともに、当該材質部との対応関係を基に特徴データを出力する高速プロセッサ(3)を設ける。特徴データを当該材質部との対応関係を基に記憶する記憶部(4)を設ける。記憶部(4)に記憶した特徴データから該当材質部における外観の適否を判定する判定手段(5)を設ける。
請求項(抜粋):
少なくとも二種以上の材質からなる被検査物を連続的に走行せしめて、被検査物の外観等を検査する装置であって、前記被検査物を走査して所定のアナログ信号を出力するラインイメージセンサと、該アナログ信号をディジタル信号に変換して出力するA/D変換手段と、該A/D変換手段から出力されるディジタル信号を微分処理して該当材質部の境界を検出するとともに、当該材質部との対応関係を基に特徴データを出力する高速プロセッサと、該特徴データを当該材質部との対応関係を基に記憶する記憶部と、該記憶部に記憶した特徴データから該当材質部における外観の適否を判定する判定手段から構成したことを特徴とする外観検査装置。
IPC (2件):
G01N 21/88 ,  G01B 11/24
引用特許:
審査官引用 (3件)
  • 特開平4-076444
  • 特開昭62-021005
  • 特開平4-076444

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