特許
J-GLOBAL ID：200903093785594120
3次元形状測定システムおよび3次元形状測定方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
大庭 咲夫
, 加藤 慎治
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-050590
公開番号（公開出願番号）：特開2004-257927
出願日： 2003年02月27日
公開日（公表日）： 2004年09月16日
要約：
【課題】3次元形状測定装置による測定対象物の測定結果を固定座標系の座標に高精度で変換する。【解決手段】複数のアーム23〜25を含む支持機構20は、その基端部にて基台10に固定され、その先端部に3次元形状測定装置30を回転可能に組み付けている。画像処理装置42は、プログラム処理によって次の変換処理を行う。支持機構20の先端部に対する3次元形状測定装置30の回転角に応じて変化する変換パラメータを生成し、3次元形状測定装置30による測定対象物の測定時に、前記変換パラメータを用いて、3次元形状測定装置30によって測定された測定部座標系の座標を支持機構20の先端部座標系の座標に変換する。さらに、この変換された座標を支持機構20の変位に応じて座標変換して、測定結果を固定座標系の座標で表す。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
複数の支持部材を順次連結するとともに各連結部にて一方の支持部材に対して他方の支持部材を相対変位可能に構成した支持機構を有し、前記支持機構の先端部に物体の3次元形状を測定する測定装置を一軸線回りに回転可能に取り付けて、前記測定装置を所望位置に移動させて所望位置から測定対象物の3次元形状を測定できるようにした3次元形状測定システムにおいて、
前記測定装置に関する座標系の座標を前記支持機構の先端部に関する座標系の座標に変換するための参照変換パラメータであって、前記支持機構の先端部に対する前記測定装置の回転角に応じて変化する参照変換パラメータを予め記憶しておくためのパラメータ記憶手段と、
前記支持機構の先端部に対する前記測定装置の回転角を検出する回転角検出手段と、
前記支持機構の各連結部における一方の支持部材に対する他方の支持部材の相対変位量をそれぞれ検出する相対変位量検出手段と、
前記測定装置による測定対象物の測定時に前記回転角検出手段により検出された回転角に基づいて、前記パラメータ記憶手段に記憶されている参照変換パラメータを用い、前記測定装置に関する座標系の座標を前記支持機構の先端部に関する座標系の座標に変換するための前記検出された回転角に対応した第1変換パラメータを計算する第1変換パラメータ計算手段と、
前記測定装置による測定対象物の測定時に前記相対変位量検出手段によって検出された相対変位量を用いて、前記支持機構の先端部に関する座標系の座標を前記支持機構の基端部に関する座標系の座標に変換するための第2変換パラメータを計算する第2変換パラメータ計算手段と、
前記計算された第1変換パラメータおよび第2変換パラメータを用いて、前記測定装置によって測定された測定対象物を表す座標であって同測定装置に関する座標系の座標を、前記測定対象物を表す座標であって前記支持機構の基端部に関する座標系の座標に変換する座標変換手段と
を備えたことを特徴とする3次元形状測定システム。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (16件)：
2F069AA04
, 2F069AA66
, 2F069GG01
, 2F069GG04
, 2F069GG07
, 2F069GG11
, 2F069GG73
, 2F069HH01
, 2F069LL03
, 2F069MM04
, 2F069MM32
, 2F069NN00
, 2F069NN21
, 2F069QQ05
, 2F069QQ08
, 2F069QQ10
