特許
J-GLOBAL ID:200903093793236658

TiO2を含有するシリカガラスの製造方法およびTiO2を含有するシリカガラスを用いたEUVリソグラフィ用光学部材

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-016880
公開番号(公開出願番号):特開2006-210404
出願日: 2005年01月25日
公開日(公表日): 2006年08月10日
要約:
【課題】従来のTiO2-SiO2ガラスはガラス中に水素分子を多く含むため、超高真空下での成膜中に水素分子がチャンバー内に拡散し、膜中にH2分子が取り込まれる。水素分子は容易に拡散するため、多層膜の光学特性が変化する可能性がある。【解決手段】EUVリソグラフィ用光学部材において、TiO2濃度が3〜12質量%であって、ガラス中の水素分子含有量が5×1017分子/cm3未満であるTiO2を含有するシリカガラスの上に多層膜をイオンビームスパッタにより成膜する。【選択図】なし
請求項(抜粋):
TiO2濃度が3〜12質量%、水素分子含有量が5×1017分子/cm3未満であるシリカガラスの上に、多層膜がイオンビームスパッタにより成膜されていることを特徴とするEUVリソグラフィ用光学部材。
IPC (8件):
H01L 21/027 ,  C03B 8/04 ,  C03B 20/00 ,  C03C 3/06 ,  C03C 3/076 ,  G02B 5/08 ,  G03F 7/20 ,  G21K 1/06
FI (11件):
H01L21/30 531A ,  C03B8/04 L ,  C03B8/04 P ,  C03B20/00 E ,  C03B20/00 F ,  C03C3/06 ,  C03C3/076 ,  G02B5/08 A ,  G03F7/20 503 ,  G21K1/06 C ,  G21K1/06 D
Fターム (71件):
2H042DA08 ,  2H042DA12 ,  2H042DB02 ,  2H042DC02 ,  2H042DE00 ,  2H097BA10 ,  2H097CA15 ,  4G014AH15 ,  4G014AH21 ,  4G062AA04 ,  4G062BB01 ,  4G062BB02 ,  4G062CC07 ,  4G062DA07 ,  4G062DA08 ,  4G062DB01 ,  4G062DC01 ,  4G062DD01 ,  4G062DE01 ,  4G062DF01 ,  4G062EA01 ,  4G062EA10 ,  4G062EB01 ,  4G062EC01 ,  4G062ED01 ,  4G062EE01 ,  4G062EF01 ,  4G062EG01 ,  4G062FA01 ,  4G062FB03 ,  4G062FB04 ,  4G062FC01 ,  4G062FD01 ,  4G062FE01 ,  4G062FF01 ,  4G062FG01 ,  4G062FH01 ,  4G062FJ01 ,  4G062FK01 ,  4G062FL01 ,  4G062GA01 ,  4G062GA10 ,  4G062GB01 ,  4G062GC01 ,  4G062GD01 ,  4G062GE01 ,  4G062HH01 ,  4G062HH03 ,  4G062HH05 ,  4G062HH07 ,  4G062HH09 ,  4G062HH11 ,  4G062HH13 ,  4G062HH15 ,  4G062HH17 ,  4G062HH20 ,  4G062JJ01 ,  4G062JJ03 ,  4G062JJ05 ,  4G062JJ07 ,  4G062JJ10 ,  4G062KK01 ,  4G062KK03 ,  4G062KK05 ,  4G062KK07 ,  4G062KK10 ,  4G062MM02 ,  4G062NN01 ,  4G062NN29 ,  5F046CB03 ,  5F046GB01
引用特許:
出願人引用 (9件)
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