特許

J-GLOBAL ID：200903093871310355

汚染元素分析方法

発明者： 小 松 文 朗 ,  宮 崎 邦 浩 ,  嶋 崎 綾 子
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (1件)： 佐藤 一雄 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-322033
公開番号（公開出願番号）：特開平6-174663
出願日： 1992年12月01日
公開日（公表日）： 1994年06月24日
要約：

【要約】【目的】 汚染試料の測定波形から、レーリー散乱とコンプトン散乱によるブロードなピーク波形とバックグラウンド波形を除去して、汚染元素の特定および濃度の算出を精度良く行なうこと。【構成】 ブランク試料に同一条件でX線を照射して複数の螢光X線の測定波形を求め、この複数の測定波形を加算平均してブランク波形を求める。次に汚染試料にブランク試料と同一条件でX線を照射して螢光X線の測定波形を求める。汚染試料の測定波形からブランク波形を減算処理した後、この減算処理後の波形データに基づいて汚染元素の特定と濃度算出を行なう。

請求項（抜粋）：

ブランク試料に各々同一条件でX線照射して複数の螢光X線の測定波形を求めるとともに、この複数の螢光X線の測定波形を加算平均してブランク波形を求める工程と、汚染試料に前記ブランク試料と同一の条件でX線を照射して螢光X線の測定波形を求める工程と、前記汚染試料の測定波形から前記ブランク波形を減算処理する工程と、減算処理して得られた波形データに基づいて汚染元素を特定するとともにその濃度を求める工程と、からなる汚染元素分析方法。

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開平4-143642
  
• 特開平2-218947
  
• 特開昭62-085850
  
• 特開平2-047542