特許
J-GLOBAL ID：200903093884512968
分光分析装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
渡辺 正康
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-262917
公開番号（公開出願番号）：特開平9-105717
出願日： 1995年10月11日
公開日（公表日）： 1997年04月22日
要約：
【要約】【課題】分光分析装置の光源に発振波長の異なる複数の半導体レーザを用いることにより、分光器を不要とする小型で軽量な分光分析装置を実現する。【解決手段】発振波長の異なる複数の半導体レーザから成り分析対象にレーザ光を照射する光源と、前記複数の半導体レーザを駆動する駆動手段と、前記分析対象の透過光または反射光を検出する受光手段と、この受光手段の出力から分析対象の光学特性の波長依存性を求め、分析対象に関する情報を得るデータ処理手段を備える。
請求項（抜粋）：
発振波長の異なる複数の半導体レーザから成り分析対象にレーザ光を照射する光源と、前記複数の半導体レーザを駆動する駆動手段と、前記分析対象の透過光または反射光を検出する受光手段と、この受光手段の出力から分析対象の光学特性の波長依存性を求め、分析対象に関する情報を得るデータ処理手段を具備したことを特徴とする分光分析装置。
IPC (3件)：
G01N 21/27
, G01J 3/42
, G01N 21/35
G01N 21/27 Z
, G01J 3/42 U
, G01N 21/35 Z
