特許
J-GLOBAL ID：200903093890915152
X線透視撮影方法及びX線透視撮影装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
井島 藤治 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-208170
公開番号（公開出願番号）：特開平9-055298
出願日： 1995年08月15日
公開日（公表日）： 1997年02月25日
要約：
【要約】【課題】 透視画像を参照することでX線撮影時間制御に適した撮影用センサを選択することが可能なX線透視撮影方法及びX線透視撮影装置を実現する。【解決手段】 X線撮影の際の露出制御のために撮影用センサを複数備え、この複数の撮影用センサの少なくとも1つを選択し、選択された撮影用センサの検出信号に基づいてX線撮影時間を制御することによりX線透視若しくはX線撮影の少なくとも一方を行う際に、前記複数の撮影用センサに対応するX線透視像の各々の領域について透視画素値の平均値及びヒストグラムを生成し(ステップ1)、前記ヒストグラムから非照射野部分と直接照射野部分と被検体の照射野部分とを認識して(ステップ2)被検体の照射野部分の画素値を代表する代表値を生成し(ステップ3)、前記平均値と前記代表値とを比較して、X線撮影に用いる撮影用センサを少なくとも1つ選択し(ステップ4)、この選択された撮影用センサの検出信号を用いてX線撮影時間を制御する(ステップ5,6)ことによりX線透視若しくはX線撮影の少なくとも一方を行うことを特徴とする。
請求項（抜粋）：
X線撮影の際の露出制御のために撮影用センサを複数備え、この複数の撮影用センサの少なくとも1つを選択し、選択された撮影用センサの検出信号に基づいてX線撮影時間を制御することによりX線透視若しくはX線撮影の少なくとも一方を行うX線透視撮影方法において、前記複数の撮影用センサに対応するX線透視像の各々の領域について透視画素値の平均値及びヒストグラムを生成し、前記ヒストグラムから非照射野部分と直接照射野部分と被検体の照射野部分とを認識して被検体の照射野部分の画素値を代表する代表値を生成し、前記平均値と前記代表値とを比較して、X線撮影に用いる撮影用センサを少なくとも1つ選択し、この選択された撮影用センサの検出信号を用いてX線撮影時間を制御することによりX線透視若しくはX線撮影の少なくとも一方を行うことを特徴とするX線透視撮影方法。
IPC (3件)：
H05G 1/64
, A61B 6/00
, H05G 1/30
H05G 1/64 E
, H05G 1/30 B
, A61B 6/00 350 D
