特許
J-GLOBAL ID：200903093911693198
サンプル収集および試験システム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
山本 秀策
, 安村 高明
, 森下 夏樹
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-500053
公開番号（公開出願番号）：特表2005-524070
出願日： 2003年04月23日
公開日（公表日）： 2005年08月11日
要約：
複数のパラメーター(ATP、ADP、アルカリホスファターゼを含む反応サンプルからの発光を含む)、または他のパラメーター(例えば、pH、温度、伝導率、酸化還元電位、溶存気体、特定のイオンおよび微生物数)を測定することによって、生成物、成分、環境またはプロセスのサンプルの品質を評価するための方法および装置。この装置は、サンプルを収集し、試薬を混合し、サンプルを反応させ、そして測定チャンバにそれを収集するために使用される一体型のサンプル試験デバイスを備える。この装置はまた、サンプル試験デバイスとともに使用するための光子検出アセンブリを有する機器を備える。この機器はまた、データ収集、転送および分析を容易にするための1つ以上の検出プローブおよび通信ポートを備える。本方法はさらに、データを記憶し、データを評価し、データをグラフ化し、そして構築された基準に対する一致を決定するための機構を含む。
請求項（抜粋）：
生成物、成分、環境またはプロセスから採取されたサンプルを測定するのに使用するための機器であって、該機器が、以下:
光子検出器および暗所チャンバを備える光子検出アセンブリ;および
該光子検出アセンブリの該光子検出器以外のさらなる測定デバイスからのシグナルを受信し得る通信ポート、
を備える、機器。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N21/78 C
, G01N33/50 P
2G045AA40
, 2G045DA15
, 2G045FA11
, 2G045JA01
, 2G045JA07
, 2G054CA03
, 2G054CA08
, 2G054CA10
, 2G054CA30
, 2G054EA02
, 2G054FA12
, 2G054FA28
, 2G054FA33
, 2G054FA42
, 2G054FA50
, 2G054GA09
