特許
J-GLOBAL ID：200903094029406030
電子部品の外観検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
吉田 精孝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-327117
公開番号（公開出願番号）：特開平8-184410
出願日： 1994年12月28日
公開日（公表日）： 1996年07月16日
要約：
【要約】【目的】 被検査部位と他の部分とが同様の光反射作用を有する場合でも、該被検査部位のエッジ位置を正確に検出してその寸法検査を的確に行える電子部品の外観検査装置を提供すること。【構成】 検査部品Pに対し撮像方向と60度程度の角度をなす光を各照明器2から夫々照射することにより、撮像時における電極部のエッジ位置に積極的に影等の明暗を付けるようにしたので、電極部と外装部が同様の光反射作用を有する場合でも、上記明暗を含む画像信号から電極部のエッジ位置を正確に検出してその寸法検査を的確に行える。
請求項（抜粋）：
電子部品における被検査部位のエッジを検出し、該エッジ位置に基づき被検査部位の寸法計測及びその良否判定を行う電子部品の外観検査装置において、検査部品を所定方向から撮像する画像入力手段と、検査部品に対し撮像方向と鋭角を成す少なくとも2方向から別々に光を照射可能な照明手段と、照明手段による方向別の光照射毎に画像入力手段を作動させて撮像を行う撮像制御手段と、光照射毎に得られた画像信号に基づいて電極部のエッジ位置を検出するエッジ位置検出手段とを具備した、ことを特徴とする電子部品の外観検査装置。
IPC (6件)：
G01B 11/00
, G01B 11/02
, G01B 11/24
, G01N 21/88
, G06T 7/00
, G06T 1/00
G06F 15/62 405 B
, G06F 15/64 320 F
