特許

J-GLOBAL ID：200903094066557898

合焦検出装置

発明者： 村上 太郎
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 渡部 敏彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-344977
公開番号（公開出願番号）：特開平7-177414
出願日： 1993年12月20日
公開日（公表日）： 1995年07月14日
要約：

【要約】【目的】 鮮鋭度評価値演算処理が従来よりも高速で行える合焦検出装置を提供する。【構成】 マイクロプロセッサ9が、画像のエッジを映像信号の微分値から検出すると共に、該微分値の連続した正の範囲または連続した負の範囲を1つのエッジとして検出し、マイクロプロセッサ9が、前記画像の全範囲または所定範囲内における前記エッジの範囲の大きさであるエッジ幅の逆数を加算し、該加算した前記エッジ幅の逆数の合計値を合焦判定用の比較値として、前記エッジ幅の逆数を合焦評価値として用いる。

請求項（抜粋）：

光学系からの被写体像の光学信号を光電変換して得られる映像信号から得た合焦情報に基づいて、前記被写体像の焦点状態が合焦であるか否かを検出する合焦検出装置において、画像のエッジを前記映像信号の微分値から検出すると共に該微分値の連続した正の範囲または連続した負の範囲を1つのエッジとして検出するエッジ検出手段と、前記画像の全範囲または所定範囲内における前記エッジの範囲の大きさであるエッジ幅の逆数を加算する加算手段とを具備し、該加算手段により加算した前記エッジ幅の逆数の合計値を合焦判定用の比較値として、前記エッジ幅の逆数を合焦評価値として用いることを特徴とする合焦検出装置。