特許

J-GLOBAL ID：200903094066879526

微小なサンプル量を検知するための手段を備えた分析装置

発明者： フランツ ボルデュアン
出願人/特許権者： ベーリンガー・マンハイム・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング
代理人 (1件)： 朝日奈 宗太 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-190078
公開番号（公開出願番号）：特開平10-073535
出願日： 1997年07月15日
公開日（公表日）： 1998年03月17日
要約：

【要約】【課題】 不充分な量のサンプルまたはテストストリップ上のサンプルを不適切に加えても正確に認識できる分析装置を提供することである。【解決手段】 互いに分離されているか、または少なくとも完全には重複していないサンプル適用領域の照射領域の部分またはテストエレメント評価領域の部分を照射する少なくとも2つの光源と、少なくとも2つの光源を別々に活性化しうるコントロールユニットと、前記評価領域によって反射された光、または評価領域をによって伝達された光を検知し、光の強さに比例して出力信号を発生する少なくとも1つのセンサと、評価ユニットとからなり、前記少なくとも2つの光源の1つが活性化されたとき、前記少なくとも2つのセンサの第1の出力信号を受信し、該第1の出力信号を測定値に変換し、前記少なくとも2つの光源の他の1つが活性化されたとき、前記少なくとも2つのセンサの第2の出力信号を受信し、該第1の出力信号を測定値に変換し、前記測定値を比較し、測定値の偏差が充分に小さいか否かを決定することを特徴としている。

請求項（抜粋）：

与えられたテストエレメントの評価領域に充分な量のサンプル液が均一に供給されたか否かを決定する手段を有する、テストエレメントの評価のための分析装置であって、(a)互いに分離されているか、または少なくとも完全には重複していないサンプル適用領域の照射領域の部分またはテストエレメント評価領域の部分を照射する少なくとも2つの光源と、(b)少なくとも2つの光源を別々に活性化しうるコントロールユニットと、(c)前記評価領域によって反射された光、または評価領域によって透過された光を検知し、光の強さに比例して出力信号を発生する少なくとも1つのセンサと、(d)評価ユニットとからなり、前記少なくとも2つの光源の1つが活性化されたとき、前記少なくとも2つのセンサの第1の出力信号を受信し、該第1の出力信号を測定値に変換し、前記少なくとも2つの光源の他の1つが活性化されたとき、前記少なくとも2つのセンサの第2の出力信号を受信し、該第1の出力信号を測定値に変換し、前記測定値を比較し、測定値の偏差が充分に小さいか否かを決定するテストエレメントの評価のための分析装置。

IPC (4件)：

G01N 21/27 ,  G01N 31/22 121 ,  G01N 33/52 ,  G01N 35/02

FI (4件)：

G01N 21/27 Z ,  G01N 31/22 121 D ,  G01N 33/52 Z ,  G01N 35/02 F