タンデム飛行時間型質量分析計および使用の方法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (6件)：深見久郎 , 森田俊雄 , 仲村義平 , 堀井豊 , 野田久登 , 酒井將行
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-521432
公開番号（公開出願番号）：特表2005-538346
出願日： 2003年04月29日
公開日（公表日）： 2005年12月15日
要約：

包括的な(すなわち、急速かつ感度の高い)MS-MS分析を提供するため、発明者は2つの飛行時間型(TOF)質量分析計を使用するタイムネストされた分離を用いる。親イオンは、低いイオンエネルギ(1から100eV)で動作する低速かつ長いTOF1で分離され、断片イオンははるかに高いkeVエネルギで動作する高速かつ短いTOF2で質量分析される。TOF1とTOF2との間の低エネルギの断片化セルは、主にセルを短くしかつ高いガス圧力を用いることによって断片化および減衰のステップを加速するように調節される。TOF1での分離にはミリ秒かかり、TOF2での質量分析にはマイクロ秒かかるため、この発明は単一のイオンパルス当たり複数の先駆物質イオンの包括的なMS-MS分析を提供する。TOF1での低速の分離は、新規のTOF1分析器の導入で可能になる。TOF-TOFは、ここでスパイラトロンの例で説明される静的なTOF1、グリドル空間的集束イオンミラーを備えた平坦および円筒形のマルチパスセパレータを使用して実現される。無線周波数(RF)および2次のDCの場を組合せた新規のハイブリッドTOF1分析器の使用で高い性能が予想される。RF場はTOF1分析器内で低エネルギのイオンを保持し、2次のDC場は大きな相対的なエネルギの拡散を補償することによって分解能を改善する。

請求項（抜粋）：

タンデム質量分析計であって、順番に接続されたパルスイオン供給源、親イオンセパレータ、断片化セル、第2の飛行時間型質量分析計(TOF2)、および複数の親イオンに対して断片質量スペクトルを取得するタイムネストされたデータ取得システムとを含み、親イオンの分離の分解能を改善するため、前記親イオンセパレータは飛行時間型質量分析計であり、同じ質量対電荷比のイオンでは、前記TOF1での飛行時間は前記断片化セルを通る通過時間および前記TOF2での飛行時間の両方よりもはるかに長い、タンデム質量分析計。

IPC (4件)：

G01N27/62 , H01J49/06 , H01J49/10 , H01J49/40

FI (6件)：

G01N27/62 K , G01N27/62 L , G01N27/62 X , H01J49/06 , H01J49/10 , H01J49/40

Fターム (11件)：

2G041CA01 , 2G041DA04 , 2G041DA05 , 2G041DA09 , 2G041DA19 , 2G041EA04 , 2G041GA06 , 2G041GA08 , 2G041GA09 , 2G041HA01 , 2G041KA01

引用特許：

審査官引用 (1件)

特表平7-500449

引用文献：

審査官引用 (1件)

“Tandem time-of-flight mass spectrometer (TOF-TOF) with a quadratic-field ion mirror”

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