特許

J-GLOBAL ID：200903094102315510

埃塵検出装置

発明者： 長谷川 拓己
出願人/特許権者： 日本電気株式会社
代理人 (1件)： 京本 直樹 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-241562
公開番号（公開出願番号）：特開平9-089755
出願日： 1995年09月20日
公開日（公表日）： 1997年04月04日
要約：

【要約】【課題】 塵や埃等の透過性の高い微粒子を検出する。【解決手段】 光15を発生する発光ダイオード10と、光15の照射部分の気流中の埃塵に反射した光を検知するフォトダイオード30と、フォトダイオード30が光を検知する際の背景となる黒紙20と、フォトトランジスタ30で受光した光の量の変化を検出する検出回路40とを有する。

請求項（抜粋）：

空気中の微粒子により屈折された光を受光して微粒子の存在を検知することを特徴とする埃塵検出装置。

IPC (2件)：

G01N 15/14 ,  G01N 21/53

FI (2件)：

G01N 15/14 P ,  G01N 21/53 Z

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 空気清浄器
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-216238   出願人：松下電工株式会社
• 特開平2-090037