特許
J-GLOBAL ID：200903094150535859
飛行時間型質量分析装置
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-182468
公開番号（公開出願番号）：特開2005-019209
出願日： 2003年06月26日
公開日（公表日）： 2005年01月20日
要約：
【課題】ガスクロマトグラフ装置から大量に導入され、イオン源で大量にイオン化される、キャリアガス由来のイオンの多くを、イオン溜の手前でカットすることのできる飛行時間型質量分析装置を提供する。【解決手段】電子衝撃イオン源は、発生したイオンの一部を、イオン溜の中心軸方向から偏向させるソースマグネットを備え、電子衝撃イオン源の後段には、ソースマグネットによるイオンの偏向を更に助長する静電レンズと、偏向されたイオンを遮断する差動排気スリットとを備えた。【選択図】 図3
請求項（抜粋）：
試料ガスのイオン化効率を高めるソースマグネットを備えた電子衝撃イオン源と、
電子衝撃イオン源で発生したイオンを滞在させるイオン溜と、
イオン溜からイオンをパルス的に加速して取り出すために、該イオン溜を挟んで対向配置されるイオン押し出しプレートおよびグリッドと、
グリッドを介してイオン溜から取り出されたイオンを質量分離する飛行時間型分光部と、
質量分離されたイオンを検出するイオン検出器とを備えた飛行時間型質量分析装置において、
前記電子衝撃イオン源とイオン溜との間に、
電子衝撃イオン源からイオン溜へと進行するイオンがソースマグネットの磁場により受ける偏向方向と、同じ方向にイオンを偏向し得る第1の偏向手段と、
偏向されたイオンを遮断するために、第1の偏向手段とイオン溜との間に配置される遮断手段とを備えたことを特徴とする飛行時間型質量分析装置。
IPC (4件)：
H01J49/40
, G01N27/62
, G01N27/64
, H01J49/06
H01J49/40
, G01N27/62 C
, G01N27/62 K
, G01N27/64 C
, H01J49/06
5C038FF01
, 5C038FF07
, 5C038FF11
, 5C038GG01
, 5C038GH13
