特許
J-GLOBAL ID：200903094218866948
不釣合試験機
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
永井 冬紀
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-103043
公開番号（公開出願番号）：特開平7-311112
出願日： 1994年05月17日
公開日（公表日）： 1995年11月28日
要約：
【要約】【目的】 事前に行なわれた校正データが適正でないときに再度校正作業を行なうことなく前回の校正値を利用して精度よく不釣合試験を行なう。【構成】 供試体の不釣合量を検出する不釣合センサ1と、供試体の基準位置を検出する基準角度位置センサ2と、予め算出した校正データを適正値と比較してその良否を判断する判断部5aと、この判断部5aにより校正データが否と判定されたとき、校正データと適正値とのずれ量に応じた補正値を演算する演算部5b,5cと、補正値でそれぞれ補正された不釣合センサ1および基準角度位置センサ2の出力と校正データにより不釣合を算出する演算部5eとを備える。
請求項（抜粋）：
供試体の不釣合量を検出する第1の検出手段と、供試体の基準位置を検出する第2の検出手段と、予め算出した校正データの良否を判断する判断手段と、この判断手段により前記校正データが否と判定されたとき、校正データと適正値とのずれ量に応じた補正値を演算する第1の演算手段と、前記補正値でそれぞれ補正された前記第1および第2の検出手段の出力と前記校正データにより不釣合を算出する第2の演算手段とを具備することを特徴とする不釣合試験機。
引用特許：
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