特許
J-GLOBAL ID：200903094220519201
気体中の浮遊粒子の原子吸光分析方法および装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鈴江 武彦 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-079633
公開番号（公開出願番号）：特開2000-275171
出願日： 1999年03月24日
公開日（公表日）： 2000年10月06日
要約：
【要約】【課題】 ダクト内を流れる気体中の浮遊粒子の成分を迅速かつ連続的に分析することが可能な分析装置を提供する。【解決手段】 ダクト内を流れる気体中の浮遊粒子の成分を分析するための原子吸光分析装置であって、光源と、ダクト内の浮遊粒子の少なくとも一部を加熱によりダクト内で原子化して原子ガスにするための加熱部と、原子ガスに光源からの光を入射するための入光部と、原子ガスを通過した入光部からの光を受けるための受光部と、受光部で受けた光の強度と入射前の光の強度との比から浮遊粒子の分析成分による吸光度を求めて該成分の量を測定する測定部とを具備することを特徴とする原子吸光分析装置。
請求項（抜粋）：
ダクト内を流れる気体中の浮遊粒子の成分を分析するための原子吸光分析方法であって、ダクト内の浮遊粒子の少なくとも一部を加熱によりダクト内で原子化して原子ガスにする工程と、原子ガスに光を通過させる工程と、原子ガス通過光の強度変化から浮遊粒子の分析成分による吸光度を求め該成分の量を測定する工程とを具備することを特徴とする原子吸光分析方法。
Fターム (13件)：
2G059AA01
, 2G059BB01
, 2G059CC19
, 2G059DD01
, 2G059DD15
, 2G059EE01
, 2G059EE11
, 2G059FF04
, 2G059FF06
, 2G059GG01
, 2G059JJ17
, 2G059MM01
, 2G059NN07
