特許
J-GLOBAL ID：200903094237513975
分布定数回路型磁界検出装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
松隈 秀盛
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-333687
公開番号（公開出願番号）：特開平5-151535
出願日： 1991年12月17日
公開日（公表日）： 1993年06月18日
要約：
【要約】【目的】 被検出磁界を高感度をもって検出することができるようにする。【構成】 分布定数回路1の内部の磁界発生部位に、印加磁界変化により透磁率が変化する磁性体2を配置し、これに被検出磁界を与えて分布定数回路1内の電磁場分布の変化を測定して被検出磁界の測定を行う。
請求項（抜粋）：
電磁波が励振された分布定数回路の内部の磁界発生部位に、印加磁界変化により透磁率が変化する磁性体を配置し、被検出磁界を上記磁性体に与えてこれの透磁率変化による上記分布定数回路内の電磁場分布の変化を検出して上記被検出磁界の検出を行うことを特徴とする分布定数回路型磁界検出装置。
IPC (6件)：
G11B 5/39
, G01R 33/02
, G01R 33/12
, H01P 1/00
, H01P 3/08
, H01P 11/00
