特許

J-GLOBAL ID：200903094244630073

光ヘッドの調整方法及び装置

発明者： 古田 寛和 ,  中城 正裕 ,  ▲高▼田 和政
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 岩橋 文雄 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-086984
公開番号（公開出願番号）：特開2002-288844
出願日： 2001年03月26日
公開日（公表日）： 2002年10月04日
要約：

【要約】【課題】 ピンホールアパーチャを使用した光ヘッドの調整装置では、位置調整が困難であった。【解決手段】 レンズ28から出射された複数の光を回折し、異なる次数の2つの回折光を干渉させてシェアリング干渉像を得て、レンズ28から出射された複数の光のうち主となる光のみを通過させ、他の光を遮断させ、回折光の位相を変化させ、前記シェアリング干渉像において、特定線分上の複数の測点で光強度変化の位相を求め、この測点位置をX、位相をφとしたとき、この位相φを測定位置Xの関数で近似し、該関数の係数値で前記レンズ28の光学特性を評価し、この光学特性評価に基づいて、光ヘッド1の発光素子9の位置ずれ量を検出し、この位置ずれ量に基づいて、発光素子9を位置調整する。

請求項（抜粋）：

レンズから出射された複数の光を回折し、異なる次数の2つの回折光を干渉させてシェアリング干渉像を得る工程と、このレンズから出射された複数の光のうち主となる光のみを通過させ、他の光を遮断する工程と、前記回折光の位相を変化させる工程と、前記シェアリング干渉像において、特定線分上の複数の測点で光強度変化の位相を求める工程と、この測点位置をX、位相をφとしたとき、この位相φを測定位置Xの関数で近似し、該関数の係数値で前記レンズの光学特性を評価する工程と、この光学特性評価に基づいて、光ヘッドの発光素子の位置ずれ量を検出する工程と、この位置ずれ量に基づいて、前記光ヘッドの発光素子を位置調整する工程とを有することを特徴とする光ヘッドの調整方法。

IPC (4件)：

G11B 7/08 ,  G02B 5/18 ,  G02B 7/00 ,  G11B 7/22

FI (5件)：

G11B 7/08 A ,  G02B 5/18 ,  G02B 7/00 A ,  G02B 7/00 H ,  G11B 7/22

Fターム (22件)：

2H043AA04 ,  2H043AA10 ,  2H043AA15 ,  2H043AA24 ,  2H043AA27 ,  2H049AA02 ,  2H049AA50 ,  2H049AA57 ,  2H049AA64 ,  2H049AA68 ,  5D117AA02 ,  5D117CC07 ,  5D117HH01 ,  5D117HH02 ,  5D117HH09 ,  5D117KK01 ,  5D117KK16 ,  5D119BA01 ,  5D119BB01 ,  5D119JA22 ,  5D119JA63 ,  5D119NA01