特許
J-GLOBAL ID：200903094260765612
テストバ-ンインボ-ドハンドラ
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
荒船 博司 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-020421
公開番号（公開出願番号）：特開2000-214219
出願日： 1999年01月28日
公開日（公表日）： 2000年08月04日
要約：
【要約】 (修正有)【課題】 試験効率が良く、TBIB1上の正常ICソケットにIC1Aの実装不良を防止できるTBIBハンドラを提供する。【解決手段】 TBIB1へ被試験IC1Aを挿入あるいは抜去するTBIBハンドラ10は、IC試験回路2とバーンインボードチェッカ3とを備える。IC試験回路2は、バーンイン試験前のIC1Aを簡易ファンクションテストによりプリテストする。バーンインボードチェッカ3は、TBIB1をショートテストする。さらに、切換回路4を備える。切換回路4は、被試験IC1Aが実装されたTBIB1と電気接続し、IC試験回路2の第1の試験信号とバーンインボードチェッカ3の第2の試験信号を切り換える。アライメントステージ6は、被試験IC1Aを載置したトレー5から移送された被試験IC1Aの姿勢を矯正する。
請求項（抜粋）：
テストバーンインボードへ被試験ICを挿入あるいは抜去するテストバーンインボードハンドラであって、バーンイン試験前の前記被試験ICを簡易ファンクションテストによりプリテストするIC試験回路と、前記テストバーンインボードをショートテストするバーンインボードチェッカと、を備えることを特徴とするテストバーンインボードハンドラ。
IPC (2件)：
FI (3件)：
G01R 31/26 Z
, H01L 21/66 G
, H01L 21/66 H
