特許

J-GLOBAL ID：200903094363268374

飛行時間型質量分析計

発明者： 石原盛男
出願人/特許権者： 日本電子株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-300257
公開番号（公開出願番号）：特開平11-135060
出願日： 1997年10月31日
公開日（公表日）： 1999年05月21日
要約：

【要約】【課題】 閉じた軌道に対するイオンの打ち込み法及び取り出し法を備えた飛行時間型質量分析計を提供する【解決手段】 複数の扇形電場によって構成された閉軌道に、イオンを打ち込むための入射軌道とイオンを取り出すための出射軌道を設けた。また、閉軌道を構成している扇形電場の電極部に、イオン入射及びイオン出射のための孔を設けた。また、入出射軌道を構成している扇形電場の電極部に、閉軌道を周回中のイオンを通過させるための孔を設けた。また、閉軌道へのイオン打ち込みの際には、イオン打ち込み用の孔を有する扇形電場の電極の電位をオフ(ゼロポテンシャル)またはイオン入射軌道を構成している扇形電場の電極の電位をオンにし、閉軌道からのイオン取り出しの際には、イオン取り出し用の孔を有する扇形電場の電極の電位をオフ(ゼロポテンシャル)またはイオン出射軌道を構成している扇形電場の電極の電位をオンにするようにした。

請求項（抜粋）：

複数の扇形電場によって構成された閉軌道に、イオンを打ち込むための入射軌道とイオンを取り出すための出射軌道を設けたことを特徴とする飛行時間型質量分析計。

IPC (2件)：

H01J 49/40 ,  G01N 27/62

FI (2件)：

H01J 49/40 ,  G01N 27/62 K

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 飛行時間型質量分析計
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-252837   出願人：日本電子株式会社