特許
J-GLOBAL ID：200903094374669524
熱分析装置用温度校正試料
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
河▲崎▼ 眞樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-080990
公開番号（公開出願番号）：特開平9-243525
出願日： 1996年03月07日
公開日（公表日）： 1997年09月19日
要約：
【要約】【課題】 どのような形状の試料でも同じ条件で熱天秤に置くことができ且つ実際の測定雰囲気でも同じ条件で温度校正のできる熱分析装置用温度校正試料を提供する。【解決手段】 純酸素雰囲気中或いは水蒸気雰囲気中等どのような雰囲気中に設置しようとも直接標準試料3が晒されることがないように、ガラスのような耐熱性のある容器2の内部に標準試料3を入れ、該容器2内部を不活性ガスで充満させてこれらの標準試料3と不活性ガスとを封入する。この熱分析装置用温度校正試料1を天秤の一方に設置して加熱し、重量変化を検出するが、この場合、種々のガスに晒して加熱しても化学反応や相変移が生じることなく同じ条件で標準試料を加熱して温度校正することができる。
請求項（抜粋）：
耐熱性のある容器の内部に標準試料を入れると共に該容器内部を不活性ガスで充満させてこれら標準試料と不活性ガスとを封入して成る熱分析装置用温度校正試料。
IPC (3件)：
G01N 1/00 102
, G01N 5/04
, G01N 25/20
G01N 1/00 102 B
, G01N 5/04 Z
, G01N 25/20 G
