特許
J-GLOBAL ID：200903094413987032
電子機器の故障診断方法及び装置並びに電池の寿命診断方法及び装置並びに記憶媒体
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
渡部 敏彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-357178
公開番号（公開出願番号）：特開平10-185979
出願日： 1996年12月26日
公開日（公表日）： 1998年07月14日
要約：
【要約】【課題】 故障診断精度の向上を図った電子機器の故障診断方法及び装置を提供する。【解決手段】 電子機器を駆動する電池1の内部抵抗2の値をコントローラ3で測定し、前記電子機器を駆動可能な劣化電池の内部抵抗値をコントローラ3のメモリに記憶し、前記測定した内部抵抗2の値が前記メモリから読み出した内部抵抗値と同じになるようにコントローラ3で制御し、前記電子機器の予め指定された複数の負荷(モータ4、ソレノイド6、ディスプレイ8を選択的に順次ドライバー5,7,9で駆動し、前記各負荷の情報をセンサー10で検出し、該検出された情報の分析及び判断処理をコントローラ3で行う。
請求項（抜粋）：
電子機器を駆動する電池の内部抵抗値を測定する測定工程と、前記電子機器を駆動可能な劣化電池の内部抵抗値をメモリに記憶する記憶工程と、前記測定工程により測定した内部抵抗値が前記メモリから読み出した内部抵抗値と同じになるように制御する制御工程と、前記電子機器の予め指定された複数の負荷を選択的に順次駆動する駆動工程と、前記各負荷の情報を検出する検出工程と、該検出工程により得られる情報の分析及び判断処理を行う分析判断処理工程とを有することを特徴とする電子機器の故障診断方法。
IPC (5件)：
G01R 31/00
, G01R 31/36
, H01M 10/42
, H01M 10/48
, H02J 7/00
G01R 31/00
, G01R 31/36 A
, H01M 10/42 P
, H01M 10/48 P
, H02J 7/00 Y
