特許

J-GLOBAL ID：200903094414810187

傾き計測装置

発明者： 清水 勝敏 ,  村瀬 有一
出願人/特許権者： 富士通株式会社
代理人 (1件)： 小林 隆夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-165318
公開番号（公開出願番号）：特開平5-333152
出願日： 1992年06月01日
公開日（公表日）： 1993年12月17日
要約：

【要約】【目的】 本発明は、平面等の傾きを計測する傾き計測装置に関するものであり、製造作業が容易で、計測精度のよい小型、軽量な傾き計測装置を提供することを目的とする。【構成】 傾きを計測する対象の計測面23に対して出力光を照射する複数の発光素子201 〜20n であって互いに離間して配置されたものと、計測面23からの反射光を受光する光検出部21とを備え、これら複数の発光素子201 〜20n を順次に発光させて光検出部21でその反射光を受光することで、各発光素子201 〜20n と計測平面23との距離をそれぞれ計測して計測面23の傾きを求めるよう構成されたものである。

請求項（抜粋）：

傾きを計測する対象の計測面(23)に対して出力光を照射する複数の発光素子(201 〜20n )であって互いに離間して配置されたものと、該計測面からの反射光を受光する光検出部(21)とを備え、該複数の発光素子を順次に発光させて該光検出部でその反射光を受光することで、各発光素子と計測平面との距離をそれぞれ計測して計測面の傾きを求めるよう構成された傾き計測装置。

IPC (3件)：

G01S 17/88 ,  G01S 17/42 ,  G01S 17/87

引用特許：

審査官引用 (5件)

• 特開昭59-136606
  
• 特開昭57-189005
  
• 特開昭63-225108
  
• 特開平3-181812
  
• 特開昭63-225109