特許

J-GLOBAL ID：200903094521126108

SQUID磁束計を用いた疲労検出装置

発明者： 黒川 政秋 ,  切東 章浩
出願人/特許権者： 三菱重工業株式会社
代理人 (1件)： 鈴江 武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-005804
公開番号（公開出願番号）：特開平8-193982
出願日： 1995年01月18日
公開日（公表日）： 1996年07月30日
要約：

【要約】【目的】本発明は、磁場変化を高い感度で検出できるSQUID磁束計を用いた疲労検出装置を提供することを目的とする。【構成】本発明に係るSQUID磁束計を用いた疲労検出装置は、被検体1に超音波パルス5を入射するための超音波探触子4と、前記超音波探触子4を駆動させる探傷器12と、被検体1に定常磁場3を印加させるための永久磁石2と、前記永久磁石2により作られた定常磁場中を超音波が通過するときに生ずる渦電流による磁場を検出するためのSQUID磁束計10と、前記超音波探傷器12により超音波パルス15を発生させるタイミングとSQUID磁束計10により磁場を検出するタイミングを調整するためのディレイ回路11から成ることを特徴とする。

請求項（抜粋）：

(A)被検体(1)に超音波パルス(5)を入射するための超音波探触子(4)と、(B)前記超音波探触子(4)を駆動させる探傷器(12)と、(C)前記被検体(1)に定常磁場(3)を印加させるための永久磁石(2)と、(D)前記永久磁石(2)により作られた定常磁場中を超音波が通過するときに生ずる渦電流による磁場を検出するためのSQUID磁束計(10)と、(E)前記超音波探傷器(12)により超音波パルス(5)を発生させるタイミングとSQUID磁束計(10)により磁場を検出するタイミングを調整するためのディレイ回路(11)とから成ることを特徴とするSQUID磁束計を用いた疲労検出装置。

IPC (2件)：

G01N 27/90 ,  G01R 33/035 ZAA