特許

J-GLOBAL ID：200903094586967584

水トリー劣化部の水トリー長測定方法、水トリー劣化部の導電率測定方法および誘電率測定方法

発明者： 李 英 ,  品川 潤一
出願人/特許権者： 昭和電線電纜株式会社
代理人 (1件)： 守谷 一雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-057257
公開番号（公開出願番号）：特開平11-316257
出願日： 1998年03月09日
公開日（公表日）： 1999年11月16日
要約：

【要約】【課題】絶縁体をスライスすることなく水トリー長、水トリー劣化部の導電率および誘電率を測定する。【解決手段】水トリーの発生した絶縁体試料10をキャパシタンスCWおよびコンダクタンスGWを並列接続した水トリー劣化部11と、キャパシタンスCPである健全部12とを直列接続した等価回路20に、且つ絶縁体試料10全体をキャパシタンスCとコンダクタンスGとを直列接続した等価回路30にそれぞれ換算して、絶縁体試料10の水トリー長、水トリー劣化部の導電率σWおよび誘電率εWを測定するにあたり、絶縁体試料10に印加する異なる周波数での電圧および電流を測定して、当該絶縁体試料10の複素インピーダンスを測定することにより、絶縁体試料10の水トリー長、水トリー劣化部の導電率σWおよび誘電率εWを求める予め決定された演算要素に必要なパラメータを算出する。

請求項（抜粋）：

水トリーの発生した絶縁体をキャパシタンス(CW)およびコンダクタンス(GW)を並列接続した水トリー劣化部と、キャパシタンス(CP)である健全部とを直列接続した等価回路に、且つ前記絶縁体試料全体をキャパシタンス(C)とコンダクタンス(G)とを直列接続した等価回路にそれぞれ換算して、前記絶縁体の水トリー劣化部の水トリー長を測定する測定方法であって、前記絶縁体に印加する異なる周波数(ω1、ω2)での電圧(VejK(但し、K=θとする。))および電流(IejQ(但し、Q=θ+φとする。))を測定して、当該絶縁体の複素インピーダンス(Z)を演算し、該複素インピーダンスから各周波数ごとのキャパシタンス(C1、C2)およびコンダクタンス(G1、G2)を演算し、該各周波数ごとのキャパシタンスおよびコンダクタンスから予め決定された演算要素【数1】によって前記健全部の前記キャパシタンスを演算し、該健全部の前記キャパシタンスから予め決定された演算要素【数2】(但し、Sは水トリーの発生面積、ε0は真空誘電率、εPは絶縁材料の比誘電率とする。)によって前記水トリー劣化部の水トリー長(lW)を測定することを特徴とする水トリー劣化部の水トリー長測定方法。

IPC (2件)：

G01R 31/12 ,  G01R 27/26

FI (3件)：

G01R 31/12 B ,  G01R 27/26 C ,  G01R 27/26 H