特許
J-GLOBAL ID:200903094589753682

渦流探傷方法および装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 山本 喜幾
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-231751
公開番号(公開出願番号):特開2001-056317
出願日: 1999年08月18日
公開日(公表日): 2001年02月27日
要約:
【要約】【課題】 探傷用コイルと被検査材との離間距離が変化する場合であっても、欠陥を精度良く検出する。【解決手段】 プローブ14の被検査材との対向面に、プリント基板22に所要のパターンで形成した複数の探傷用コイル16が配設される。複数の探傷用コイル16は順次切替えられることで、被検査材の表面を走査して所要の領域に亘って探傷する。プリント基板22に、各探傷用コイル16と対応して複数の距離センサ28が配設される。各距離センサ28は、被検査材の表面から各探傷用コイル16までの実際の離間距離を測定する。そして、距離センサ28からの距離信号を基に、各探傷用コイル16からの探傷信号を補正した後、その補正信号を基に欠陥判定する。
請求項(抜粋):
被検査材(12)の表面(12a)と対向する複数の探傷用コイル(16)を備え、この複数の探傷用コイル(16)を順次切替えて走査することで、前記被検査材(12)の表面(12a)に存在する欠陥を探傷する渦流探傷装置において、前記探傷用コイル(16)から被検査材(12)の表面(12a)までの離間距離を、該コイル(16)に対応する距離センサ(28)により測定し、前記各探傷用コイル(16)から出力される探傷信号を、対応する距離センサ(28)から出力される距離信号に基づいて補正した後に、欠陥判定を行なうことを特徴とする渦流探傷方法。
Fターム (13件):
2G053AA11 ,  2G053AB21 ,  2G053BA15 ,  2G053BB03 ,  2G053BC14 ,  2G053CA03 ,  2G053CB10 ,  2G053CB19 ,  2G053CB24 ,  2G053DA01 ,  2G053DB03 ,  2G053DB07 ,  2G053DB23

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